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WT 高频高分辨率超声波水浸成像系统报价

产品类型:超声波探伤仪

设备适用于半导体组件裂纹和脱粘检测;陶瓷和复合材料气孔和分层检测;航空部件脱粘检测;工业制造业材料检查。

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高精度扫查器及控制装置,采用X,Y,Z三轴扫查器

X:线性马达驱动系统,行程:300mm;分辨率:1μm;采样:2μm1-1.0mm;更大移动速度.1000mm/sec2

Y:高精度滚珠丝杆脉冲系统,行程:350mm;分辨率:1μm;采样:2μm1-1.0mm

Z:高精度滚珠丝杆脉冲系统,行程:50mm;分辨率:1μm;采样:2μm1-1.0mm

*1: X/Y=0.2μm/0.5μm

*2:扫描速度取决于振动,PRF和图像精度;

*3: 高度方向具有距离修补功能。

更大采集点:300000000

扫查器尺寸重量:尺寸:1000×800×570 mm;重量:约120 kg

扫查器软件设置特点:操作简单,由鼠标即可完成所有设置。通过鼠标移动到任意想要取点位置,点击或

点击拖动鼠标完成扫描区域设置。

典型检测:陶瓷部件表面裂纹检出;印刷电路板粘结部检测;陶瓷基盘检测

HIS3 HF

脉冲电压

-200V

脉冲下降沿时间

小于 1.0ns

系统带宽

1.0-300MHz

动态增益

0-71dB/1dB 步进

A 扫范围

0-40.96us

3 轴扫查器

系统驱动

X:300mm(线性马达)

Y:350mm(滚珠丝杆和步进马达)

Z:50mm(滚珠丝杆和步进马达)

扫描速度

更大可达1,000mm/s

扫描间距

标准间距:从2um 1.0mm(X-Y)

扫描模式

光栅扫描(X-Y)

水槽尺寸

430(宽) X 590() X 100() mm

数据采集网格点

可达 300,000,000 /1 次扫描

数据保存

HDD,DVD-RW

基本参数

尺寸

3 轴扫查器外部尺寸:1000X900X570

PC 机:590X440X80mm

HIS 3 HF:449X398X135mm

重量

3 轴扫查器:约120kgPC 机:15kgHIS 3 HF10kg

电源

AC 100V 1KVA

 

工作环境:

工作温度:-15~55℃

存储温度:-20~60℃

相对湿度:不超过85%

工作电压:AC220±10V

 

                                                          125MHz射频波探头波形图

WT 高频高分辨率超声波水浸成像系统1.jpg

 

                                                                      高阻尼探头

WT 高频高分辨率超声波水浸成像系统2.jpg

 

 

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